ICS 29.045 H 80 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 24576—2009 高分辨率X射线衍射测量GaAs衬底生长的 AIGaAs 中 AI成分的试验方法 Test method for measuring the Al fraction in AlGaAs on GaAs substrates by high resolution X-ray diffraction 2009-10-30发布 2010-06-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会中国标准出版社授权北京万方数据股份有限公司在中国境内（不含港澳台地区)推广使用

GB-T 24576-2009 高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法

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