ICS 71.040.50 G 04 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T18907—2013/ISO25498:2010 代替GB/T18907—2002 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法 Microbeam analysis-Analytical electron microscopy-Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope (ISO25498:2010,IDT) 2013-07-19发布 2014-03-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T18907—2013/ISO25498;2010 目 次 前言 引言 1 范围 2 规范性引用文件 术语、符号和定义…· 原理 5 仪器设备 6 试样 7 标准物质 8 试验方法 9 SAED谱的测量和标定 10180°不确定性 11不确定度评估 附录A（资料性附录）纯金与纯铝的晶面间距表 3 附录B（资料性附录）结构为BCC、FCC和HCP的单晶体斑点衍射谱 参考文献

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