(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210529618.1 (22)申请日 2022.05.16 (71)申请人 奥蒂玛光学科技 （深圳） 有限公司 地址 518000 广东省深圳市龙岗区龙城街 道黄阁坑社区黄阁北路449号龙岗天 安数码创新园三 号厂房B901 (72)发明人 陈龙　王雨桐　曹沿松　 (74)专利代理 机构 深圳市威世博知识产权代理 事务所(普通 合伙) 44280 专利代理师 张晓薇 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06V 10/44(2022.01) G06V 10/74(2022.01) G06V 10/764(2022.01)G06K 9/62(2022.01) (54)发明名称 一种异常区域检测方法、 自动光学检测设备 以及存储介质 (57)摘要 本申请公开了一种异常区域检测方法、 自动 光学检测设备以及存储介质。 该的异常区域检测 方法包括： 获取在待检测图像中的第一起始点； 基于第一起始点按照第一预设尺 寸， 生成第一重 复单元区域； 利用第一重复单元区域获取尺寸相 同的第一相邻区域， 获取第一重复单元区域与第 一相邻区域的第一相似度； 在第一相似度大于等 于第二相似度阈值的情况下， 将第一重复单元区 域作为符合相似度条件的重复单元区域。 通过上 述实施方式， 能够将重复度较高的待检测图像利 用重复单元区域找到异常区域， 简化算法复杂程 度； 同时能从重复度较高的待检测图像中准确找 到异常区域， 便于利用找到的异常区域进行后续 的图像处 理。 权利要求书2页 说明书12页 附图11页 CN 114820561 A 2022.07.29 CN 114820561 A 1.一种异常区域检测方法， 其特 征在于， 所述异常区域检测方法包括： 获取在待检测图像中的第一 起始点； 基于所述第一 起始点按照第一预设尺寸， 生成第一重复单 元区域； 利用所述第 一重复单元区域获取尺寸相同的第 一相邻区域， 获取所述第 一重复单元区 域与所述第一相邻区域的第一相似度； 在所述第一相似度大于等于第 二相似度阈值的情况下， 将所述第 一重复单元区域作为 符合相似度条件的重复单 元区域； 利用所述重复单元区域对包括电路板的待检测图像的所有区域进行遍历匹配， 得到所 述重复单 元区域与每一个区域的相似度； 将相似度小于第一相似度阈值的区域， 标记为异常区域。 2.根据权利要求1所述的异常区域检测方法， 其特征在于， 所述获取所述第 一重复单元 区域与所述第一相邻区域的第一相似度之后， 所述异常区域检测方法还 包括： 在所述第一相似度小于等于所述第 二相似度阈值的情况下， 基于所述第 一起始点按照 第二预设尺寸， 生成第二重复单 元区域； 重复执行： 利用所述第二重复单元区域获取尺寸相同的第二相邻区域， 获取所述第二 重复单元区域与所述第二相邻区域的第二相似度， 直至获取第二相似度大于等于所述第二 相似度阈值的第二重复单 元区域， 作为符合相似度条件的重复单 元区域。 3.根据权利要求1所述的异常区域检测方法， 其特征在于， 所述获取所述第 一重复单元 区域与所述第一相邻区域的第一相似度之后， 所述异常区域检测方法还 包括： 基于所述第一 起始点按照第二预设尺寸， 生成第二重复单 元区域； 利用所述第 二重复单元区域获取尺寸相同的第 二相邻区域， 获取所述第 二重复单元区 域与所述第二相邻区域的第二相似度； 将所述第一相似度和所述第二相似度中最大的相似度对应的重复单元区域作为符合 相似度条件的重复单 元区域。 4.根据权利要求3所述的异常区域检测方法， 其特征在于， 所述获取所述第 二重复单元 区域与所述第二相邻区域的第二相似度之后， 所述异常区域检测方法还 包括： 判断所述第一相似度和所述第二相似度是否均大于等于所述第二相似度阈值； 若否， 则按照大于等于所述第 二相似度阈值的相似度对应的重复单元区域作为符合相 似度条件的重复单 元区域； 若是， 则按照预设尺寸 最大的重复单 元区域作为符合相似度条件的重复单 元区域。 5.根据权利要求1所述的异常区域检测方法， 其特征在于， 所述获取所述第 一重复单元 区域与所述第一相邻区域的第一相似度之后， 所述异常区域检测方法还 包括： 在所述第一相似度小于第 三相似度阈值的情况下， 选择第 二起始点替换所述待检测图 像中的第一 起始点； 其中， 所述第三相似度阈值小于所述第二相似度阈值。 6.根据权利要求1所述的异常区域检测方法， 其特征在于， 所述将相似度小于第 一相似 度阈值的区域， 标记为异常区域之前， 所述异常区域检测方法还 包括： 利用所述待检测图像的所有区域 坐标以及相似度， 建立网格图像； 按照所述网格图像的相似度分布， 获取 所述网格图像的相似度直方图；权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114820561 A 2利用所述相似度直方图的分布情况， 按照预设阈值 算法确定所述第一相似度阈值。 7.根据权利要求1所述的异常区域检测方法， 其特征在于， 所述异常区域检测方法， 包 括： 获取待处 理图像， 并获取 所述待处 理图像的图像纹 理特征； 基于所述图像纹 理特征的梯度变化情况， 将所述待处 理图像划分若干区域； 将所述若干区域中符合图像梯度条件的区域， 确定为电路板区域， 其余区域确定为非 电路板区域； 按照所述电路板区域对所述待处 理图像进行分割， 得到所述电路板的待检测图像。 8.根据权利要求1所述的异常区域检测方法， 其特征在于， 所述将相似度小于第 一相似 度阈值的区域， 标记为异常区域之后， 所述异常区域检测方法还 包括： 获取所述电路板的设计图， 以及获取 所述设计图和所述待检测图像的映射矩阵； 利用所述映射矩阵获取 所述异常区域在所述设计图中的电路元件区域； 利用所述电路元件区域和所述异常区域， 对准所述待检测图像和所述电路板的设计 图。 9.一种自动光学检测设备， 其特征在于， 包括： 处理器和存储器， 所述存储器中存储有 计算机程序， 所述处理器用于执行所述计算机程序以实现权利要求 1至8中任一项 所述的方 法。 10.一种计算机可读存储介质， 其上存储有程序指令， 其特征在于， 所述程序指令被处 理器执行时实现权利要求1至8任一项所述的方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114820561 A 3