(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202221401399.0 (22)申请日 2022.06.07 (73)专利权人 靖江安通电子设备有限公司 地址 214500 江苏省泰州市靖江市城北园 区山南路18号 (72)发明人 郑健　李文刚　李官友　 (51)Int.Cl. G01N 33/00(2006.01) B08B 1/02(2006.01) B08B 5/02(2006.01) F16M 3/00(2006.01) (54)实用新型名称 一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设 备 (57)摘要 本实用新型涉及测试设备技术领域， 特别是 涉及一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设 备， 包括设备主体， 所述设备主体前表面顶端固 定连接有放置框， 所述放置框一侧顶端表面与底 端表面均开 设有通孔， 其中一个所述通孔内侧设 置有第一转杆， 所述第一转杆与通孔连接处设置 有第一轴承； 通过设计了放置框、 电机、 第一转 杆、 软毛、 通孔、 第一轴承、 第一皮带辊、 第二转 杆、 第二皮带辊、 皮带、 风机、 第一导风管、 第二导 风管、 导风支管、 穿孔， 使得检测晶体在被检测 前， 其表面可能附着的灰尘可以被有效的清理干 净， 使得晶体在后期进行像素测试时， 检测的结 果更加精准， 有效的增 加了设备的实用性。 权利要求书1页 说明书3页 附图2页 CN 217981400 U 2022.12.06 CN 217981400 U 1.一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设备， 包括设备主体 （1） ， 其特征在于， 所述 设备主体 （1） 前表面顶端固定连接有放置框 （2） ， 所述放置框 （2） 一侧顶端表面与底端表面 均开设有通孔 （6） ， 其中一个所述通孔 （6） 内侧设置有第一转杆 （4） ， 所述第一转杆 （4） 与通 孔 （6） 连接处设置有第一轴承 （7） ， 所述第一转杆 （4） 表面一端套设有第一皮带辊 （8） ， 且所 述第一转杆 （4） 一端设置有电机 （3） ， 其中另一个所述通孔 （6） 内侧设置有第二转杆 （9） ， 所 述第二转杆 （9） 表 面一端套设有第二皮带辊 （10） ， 所述第二皮带辊 （10） 与第一皮带辊 （8） 之 间设置有皮带 （11） ， 且所述第一转杆 （4） 与第二转杆 （9） 处于放置框 （2） 内侧一端表面均设 置有软毛 （5） ， 所述放置框 （2） 另一侧设置有风机 （12） ， 所述风机 （12） 一侧设置有第一导风 管 （13） ， 所述第一导风管 （13） 顶端与底端均设置有第二导风管 （14） ， 所述第二导风管 （14） 靠近放置框 （2） 一侧设置有导风支管 （15） ， 所述导风支管 （15） 一端处于放置框 （2） 内壁开设 有穿孔 （16） 。 2.根据权利要求1所述的一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设备， 其特征在于， 所 述设备主体 （1） 内部设置有自动送料组件、 自动取 料组件、 测试板、 放 射源、 操作台。 3.根据权利要求1所述的一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设备， 其特征在于， 还 包括移动组件， 所述移动组件包括支撑座 （17） ， 所述支撑座 （17） 处于设备主体 （1） 底端一 侧， 所述设备主体 （1） 底端另一侧设置有螺纹柱 （18） ， 所述螺纹柱 （18） 外侧套设有螺纹套 （19） ， 所述螺纹套 （19） 底端设置有第二轴承 （20） ， 所述第二轴承 （20） 底端设置有连接板 （21） ， 所述连接 板 （21） 底端设置有滚轮 （2 2） ， 且所述设备主体 （1） 一侧设置有握把 （23） 。 4.根据权利要求1所述的一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设备， 其特征在于， 所 述电机 （3） 顶端设置有固定横板， 所述固定横板与放置 框 （2） 为固定连接 。 5.根据权利要求1所述的一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设备， 其特征在于， 所 述设备主体 （1） 前表面中部设置有防护门， 所述防护门与设备主体 （1） 为铰接 。 6.根据权利要求3所述的一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设备， 其特征在于， 所 述握把 （23） 表面 开设有防滑纹， 且所述握把 （23） 与设备主体 （1） 一侧表面 为焊接。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 217981400 U 2一种测试晶体像素光输出均匀性的测试设 备 技术领域 [0001]本实用新型涉及测试设备技术领域， 特别是涉及 一种测试晶体像素光输出均匀性 的测试设备。 背景技术 [0002]晶体是由大量微观物质单位按一定规则有序排列的结构， 因此可以从结构单位的 大小来研究判断排列规则和晶体形态， 在获取 晶体的余晖参数时需要对其进行测试， 但是 目前的侧视设备仍然存在一些问题。 [0003]如授权公告号为CN215375170U的实用新型所公开的一种高效测试晶体余辉参数 的测试设备， 其虽然有效解决了现有技术中人工操作， 晶体像素出光面跟PD芯片像素耦合 精度差， 测试数据准确性较差以及测试效率较低的问题， 但是该设备在 对晶体进 行测试前， 无法对其表面的灰尘先进行处理， 在一定程度上会对晶体检测的结果造成影响， 使得检测 的结果不够精准， 为此我们提出一种测试晶体 像素光输出均匀性的测试设备。 实用新型内容 [0004]为了克服现有技术的不足， 本实用新型提供一种测试晶体像素光输出均匀性的测 试设备， 通过设计了放置框、 电机、 第一转杆、 软毛、 通孔、 第一轴承、 第一皮带辊、 第二转杆、 第二皮带辊、 皮带、 风机、 第一导风管、 第二导风管、 导风支管、 穿孔， 使 得检测晶体在被检测 前， 其表面可能附着的灰尘可以被有效的清理干净， 使得晶体在后 期进行像素测试时， 检测 的结果更加精准， 有效的增 加了设备的实用性。 [0005]为解决上述技术问题， 本实用新型提供如下技术方案： 一种测试晶体像素光输出 均匀性的测试设备， 包括设备主体， 所述设备主体前表面顶端固定连接有放置框， 所述放置 框一侧顶端表面与底端表面均开设有通孔， 其中一个所述通孔内侧设置有第一转杆， 所述 第一转杆与通孔连接处设置有第一轴承， 所述第一转杆表面一端套设有第一皮带辊， 且所 述第一转杆一端设置有电机， 其中另一个所述通孔内侧设置有第二转杆， 所述第二转杆表 面一端套设有第二皮带辊， 所述第二皮带辊与第一皮带辊之间设置有皮带， 且所述第一转 杆与第二转杆处于放置框内侧 一端表面均设置有软毛， 所述放置框另一侧设置有风机， 所 述风机一侧设置有第一导风管， 所述第一导风管顶端与底端均设置有第二导风管， 所述第 二导风管靠近放置框一侧设置有导风支管， 所述导风支管一端处于放置框内壁开设有穿 孔。 [0006]作为本实用新型的一种优选技术方案， 所述设备主体内部设置有自动送料组件、 自动取料组件、 测试板、 放 射源、 操作台。 [0007]作为本实用新型的一种优选技术方案， 还包括移动组件， 所述移动组件包括支撑 座， 所述支撑座处于 设备主体底端一侧， 所述设备主体底端另一侧设置有螺纹柱， 所述螺纹 柱外侧套设有螺纹套， 所述螺纹套底端设置有第二轴承， 所述第二轴承底端设置有 连接板， 所述连接 板底端设置有滚轮， 且所述设备主体一侧设置有握把。说　明　书 1/3 页 3 CN 217981400 U 3